Raziskovalna oprema je (so)financirana s strani Javne agencije za znanstvenoraziskovalno in inovacijsko dejavnost Republike Slovenije.
Namembnost opreme in dodatne informacije
Rentgenska fotoelektronska spektroskopija (XPS) je metoda za analizo površin, ki zagotavlja podrobne informacije o elementarni sestavi in kemijskem stanju atomov na površini. Uporabna je za prepoznavanje oksidacije, korozije in tribokemijskih reakcij, ki se pojavljajo na površini med procesom drsenja. Prav tako je pomembna za analizo kemijske narave tribofilmov (in-situ razvite filme), ki nastanejo med procesom drsenja. Na kratko, gre za ključno orodje za razvoj novih površin, odpornih proti obrabi in trenju, ter boljših strategij mazanja.
Dostop do opreme
Oprema je dostopna v laboratoriju TINT. S predhodno najavo vsaj en teden pred izvedbo analiz, je oprema skupaj z operaterjem razpoložljiva vsem fakultetnim in zunanjim partnerjem laboratorija TINT. Kontakt: mitjan.kalin@fs.uni-lj.si.